Архив докладов, которые были зачитаны на конференции

1. Доклад Бакиров Л.Р. "Опыт испытаний ЭКБ на испытательном стенде Роскосмоса на базе 1 ГэВ синхроциклотрона ПИЯФ" 
2. Доклад Баранов Н.Н. "Проектирование аппаратуры связи по технологии СБИС типа "система на кристалле"
3. Доклад Брянда О.Е. "Проблемные вопросы конференции Минпромторга РФ по обеспечению аппаратуры стратегически значимых объектов современной высоконадёжной ЭКБ"
4. Доклад Буслов И.И. "Новая ЭКБ ОАО “ИНТЕГРАЛ”-управляющая компания холдинга “ИНТЕГРАЛ” специального назначения"
5. Доклад Ведерников А.А. "Контактирующие устройства для СВЧ измерений"
6. Доклад Горбатов К.В. "Высоконадежные электронные компоненты Infineon и Mitsubishi для космических и специальных применений"
7. Доклад Данилин Н.С. "Развитие ЭКБ СВЧ-диапазона малых спутников для целей обнаружения метеоритной и астероидной угрозы"
8. Доклад Демидова В.И. "Конденсатор К10-84 – новая разработка ОАО "ВЗРД "Монолит"
9. Доклад Димитров Д.М. "Инженеринг ЭРИ ИП для космической промышленности"
10. Доклад Егоров К.В. «Проблемныевопросыимпортозамещения присоздании РЭА КА» 
11. Доклад Захаров А.С. "Развитие производственно-испытательного комплекса испытательного центра РНИИЭС в свете выполнения инвестиционных проектов в рамках ФЦП «Развитие ЭКБ и РЭА" и подпрограммы ФЦП «Развития ОПК"
12. Доклад Иванов Р.В. "Результаты работ по проведению испытаний в 2013 г."
13. Доклад Ивин В.Д. "Мнимые и реальные проблемы технологии  поверхностного  монтажа ЭРИ ИП в бессвинцовом исполнении"
14. Доклад Исаев В.М. "Основные результаты реализации программных мероприятий по созданию радиационно-стойкой и высоконадежной электронной компонентной базы" 
15. Доклад Какоулин М.И. "Создание технологического базиса проектирования высоконадежных спецстойких микросхем"
16. Доклад Каленов В.Г. "Новые программно-аппаратные средства в НЦ СЭО для организации испытаний ЭКБ"
17. Доклад Капрэ В.Г. "Проектирование технологической оснастки для сертификационных испытаний СВЧ изделий, некоторые проблемы и пути решений"
18. Доклад Коломенская Н.Г. "Актуальные вопросы стандартизации ЭКБ" 
19. Доклад Комаров А.С. "Порядок и условия применения ЭКБ ИП в ВВСТ" 
20. Доклад Кононов В.К. "Перспективы восстановления членства России в Системе сертификации электронных компонентов МЭК" 
21. Доклад Кочанов Ю.М. "Оборудование компании Beneq для нанесения функциональных покрытий по технологии ALD и электролюминесцентные дисплеи Lumineq"
22. Доклад Крекотень Ф.В. "Особенности реализации тестовых решений СБИС нового поколения: когда количество переходит в качество"
23. Доклад Кузьмин В.В. "Перспективы создания идентификационной химической маркировки ЭКБ"
24. Доклад Кулибаба А.Я. "Особенности доказательной документации на ЭКБ ИП высокой надежности"
25. Доклад Кулибаба А.Я. "Форсированные ресурсные испытания ферритовых СВЧ приборов"
26. Доклад Куликов Р.С. "Испытания: снижение стоимости и сроков подготовки испытательной оснастки, повышение надёжности контакта"
27. Доклад Лапина Е.И. "Каталогизация ЭКБ. Результаты, проблемы и пути их решения" 
28. Доклад Малащенко А.А."О некоторых особенностях отбраковочных испытаний электромагнитных реле и возможностях их применения при повышенных напряжениях и частотах" 
29. Доклад Митин Е.В. "Проблемные вопросы испытаний ЭКБ на стойкость к одиночным радиационным эффектам" Текст доклада 
     
30. Доклад Новоселов А.Ю. "Современные АЦП и ЦАП производства ЗАО «ПКК Миландр» для специальных применений"
31. Доклад Попов В.Д. "Миграция дефектов из кремния - один из факторов старения интегральных микросхем при длительном воздействии ионизирующего излучения" 
32. Доклад Сницар В.Г. "Новые разработки НПК "Технологический центр" для аппаратуры космического назначения"
33. Доклад Стешенко В.Б. "Основные результаты работы ОАО «Российские космические системы» по обеспечению ЭКБ в 2013 – 2014 годах"
34. Доклад Таперо К.И. "Особенности деградации изделий БиКМОП-технологии при испытаниях с учетом эффектов низкоинтенсивного излучения" 
35. Доклад Темников Е.С. "Контроль качества микросхем, изготовленных на основе пластин с кристаллами заказных элементов"
36. Доклад Ужегов В.М. "Требования к модели воздействия ионизирующих излучений космического пространства на комплектующие электрорадиоизделия в составе бортовых системы КА" 
37. Доклад Уланова А.В. "Многократные сбои в ЭКБ: актуальность задачи, методика выявления и результаты испытаний"  
38. Доклад Федосов В.В. "О принципе равнопрочной (равнонадёжной) комплектации электронной компонентной базой аппаратуры космических аппаратов"
39. Доклад Хоренко Е.М. "Принципы выбора, закупки и контроля качества электронных, электрических и электромеханических компонентов в компании Tesat Spacecom (Германия)"
40. Доклад Чубунов П.А. "Развитие испытательных средств контроля стойкости ЭКБ к воздействию ионизирующих излучений космического пространства, как совокупности испытательных стендов, нормативно-методического и программного обеспечения" 
41. Доклад Чумаков А.И. "Некоторые мифы о радиационной стойкости ИС" 
42. Доклад Ямщиков Ю.А. "Контроль качества серийно выпускаемой ЭКБ на этапе входногоконтроля с применением новых методов ФТА"
43. Доклад Яненко А.В. "Порядок распространения ранее полученных результатов радиационных испытаний на однотипные изделия" 
44. Доклад Яньков А.И. "Результаты разработки сбоеустойчивых микросхем для космического применения"